北大李戈團(tuán)隊(duì)提出大模型單測(cè)生成新方法，顯著提升代碼測(cè)試覆蓋率

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原標(biāo)題：北大李戈團(tuán)隊(duì)提出大模型單測(cè)生成新方法，顯著提升代碼測(cè)試覆蓋率
關(guān)鍵字：模型,代碼,測(cè)試,片段,覆蓋率
文章來(lái)源：機(jī)器之心
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AIxiv專欄是機(jī)器之心發(fā)布學(xué)術(shù)、技術(shù)內(nèi)容的欄目。過(guò)去數(shù)年，機(jī)器之心AIxiv專欄接收?qǐng)?bào)道了2000多篇內(nèi)容，覆蓋全球各大高校與企業(yè)的頂級(jí)實(shí)驗(yàn)室，有效促進(jìn)了學(xué)術(shù)交流與傳播。如果您有優(yōu)秀的工作想要分享，歡迎投稿或者聯(lián)系報(bào)道。投稿郵箱：liyazhou@jiqizhixin.com；zhaoyunfeng@jiqizhixin.com單元測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)流程中的一個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)，主要用于驗(yàn)證軟件中的最小可測(cè)試單元，函數(shù)或模塊是否按預(yù)期工作。單元測(cè)試的目標(biāo)是確保每個(gè)的代碼片段都能正確執(zhí)行其功能，對(duì)于提高軟件質(zhì)量和開(kāi)發(fā)效率具有重要意義。
然而，大模型自身無(wú)力為復(fù)雜待測(cè)函數(shù)（環(huán)復(fù)雜度大于 10）生成高覆蓋率的測(cè)試樣例集。為了解決該痛點(diǎn)，北京大學(xué)李戈教授團(tuán)隊(duì)提出一種全新的提升測(cè)試用例覆蓋率的方法，該方法借助程序分片思想（Method Slicing)，將復(fù)雜待測(cè)函數(shù)依據(jù)語(yǔ)義拆解為若干簡(jiǎn)單片段，進(jìn)而讓大模型為各個(gè)簡(jiǎn)單片段分別生成測(cè)試樣例。生成單個(gè)測(cè)試樣例時(shí)，大模型只需分析原待測(cè)函數(shù)的一個(gè)片段，分析難度減小，生成覆蓋該片段的單元測(cè)試難度隨之減小。由此推廣，提升整體測(cè)試樣例集代碼覆蓋率。
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